QRM-MicroCT-BarPattern-NANO分辨率测试卡，内含两个3mm×3mm硅质芯片，分别水平和垂直安装，芯片上刻有条状（沟槽）和点状图样，度规格为：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.

Cirs 016A-BR12分辨率测试卡,016A-BR12高分辨率线对卡只需一次曝光即可对乳房 X 线摄影系统分辨率进行 QC 检查！

JIMA RT RC-04分辨率测试卡是一种用于设置和测试微焦X射线系统的光刻生产的测试模式

JIMA RT RC-05B分辨率测试卡是一款采用半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率，确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 µ m至50 µ m）的分辨率。这对应于6微米和100微米（6 µ m和100 µ m）之间的焦斑尺寸。

USAF 1951分辨率测试卡,光学成像系统的分辨率指该系统能否分开两个靠近的点或物体细节的能力，通常以每毫米可以识别的线对数（lp/mm）来表示光学成像系统分辨率的大小

QRM-MicroBar测试模体，QRM QRM-MicroBar测试卡内含两个3mm×3mm硅质芯片，分别水平和垂直安装，芯片上刻有条状（沟槽）和点状图样，度规格为：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.

MicroCT-Barpattern-NANO分辨率测试卡，MicroCT-Barpattern-NANO纳米显微CT柱状测试卡，采用双硅芯片相互垂直、通过塑料支架固定的设计理念，使两个3 x 3 mm²芯片均呈现数组线状或点状图样，宽度和直径从1µm到10µm不等。

JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA RT RC-05分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

QRM QRM-MicroBar分辨率测试卡 内含两个3mm×3mm硅质芯片，分别水平和垂直安装，芯片上刻有条状（沟槽）和点状图样，度规格为：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.